一種用于集成電路的定點檢測機構

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201610708517.5 申請日 -
公開（公告）號 CN106291326B 公開（公告）日 2018-10-12
申請公布號 CN106291326B 申請公布日 2018-10-12
分類號 G01R31/28 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王文慶 申請（專利權）人 西藏紫光新微電子投資有限公司
代理機構 臺州藍天知識產權代理有限公司 代理人 王衛(wèi)兵
地址 318050 浙江省臺州市路橋區(qū)路北街道騰達路半島花園2幢17A04室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種用于集成電路的定點檢測機構，包括夾持底座、立柱、伸縮管、旋轉機構、伸縮桿和連接在伸縮桿一端的探針；夾持底座成型有一通槽，通槽的上側壁成型有一對連接柱，通槽內設有夾持板，夾持板的上端成型有一對插接柱，連接柱的底面成型有插槽，插接柱插接在插槽內，連接柱上插套有第一壓簧；伸縮管的一端成型有圓形的連接套，連接套插套在立柱上，連接套的外側壁上成型有環(huán)形的齒圈，旋轉機構包括與齒圈的一側嚙合連接的旋轉齒輪、插套在旋轉齒輪中部的豎直的花鍵軸；伸縮管的另一端成型有伸縮槽，伸縮桿插接在伸縮槽內。本發(fā)明能釋放雙手，方便與集成電路檢測部位的定位檢測點相接觸連接。