樣本選擇方法及裝置、分類器訓(xùn)練方法及裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110933655.4 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113673592A 公開（公告）日 2021-11-19
申請(qǐng)公布號(hào) CN113673592A 申請(qǐng)公布日 2021-11-19
分類號(hào) G06K9/62 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 谷曉琳;楊敏;張燚;劉科 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 北京軒宇空間科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 成都誠中致達(dá)專利代理有限公司 代理人 曹宇杰;楊春
地址 101318 北京市順義區(qū)高麗營鎮(zhèn)文化營村北（臨空二路1號(hào)）
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種樣本選擇方法及裝置、分類器訓(xùn)練方法及裝置，應(yīng)用于單階段目標(biāo)檢測器，其中樣本選擇方法包括：構(gòu)建同時(shí)考慮分類損失和回歸損失的代價(jià)函數(shù)；根據(jù)檢測網(wǎng)絡(luò)輸出的預(yù)測信息和目標(biāo)真值，利用代價(jià)函數(shù)計(jì)算所有候選樣本的代價(jià)；利用先驗(yàn)信息篩選候選樣本；根據(jù)代價(jià)對(duì)篩選出的候選樣本進(jìn)行排序，選擇前N個(gè)代價(jià)最小的樣本為正樣本，其余為負(fù)樣本。分類器訓(xùn)練方法及裝置，根據(jù)回歸框與目標(biāo)框的IoU值區(qū)分所有正樣本，提高了高質(zhì)量候選樣本對(duì)分類損失的貢獻(xiàn)，抑制低質(zhì)量樣本的影響。