一種大芯徑光纖幾何參數(shù)測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202121953934.9 申請日 -
公開（公告）號 CN215725709U 公開（公告）日 2022-02-01
申請公布號 CN215725709U 申請公布日 2022-02-01
分類號 G01B11/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 吳杰;莫琦;劉銳 申請（專利權(quán)）人 武漢睿芯特種光纖有限責任公司
代理機構(gòu) 北京路浩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 沈軍
地址 430078湖北省武漢市東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)未來三路99號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提供一種大芯徑光纖幾何參數(shù)測試系統(tǒng)，包括第一位移臺、第二位移臺、單波長光源、包層光剝除器及光電成像系統(tǒng)；第一位移臺用于固定待測光纖的第一端；第二位移臺用于固定待測光纖的第二端；第一位移臺與第二位移臺呈間隔設置，以使得待測光纖處于彎曲狀態(tài)；單波長光源用于朝向待測光纖的第一端發(fā)射出單波長光束；包層光剝除器用于對待測光纖的部分包層進行剝除，以控制剝除的待測光纖中包層光的輸出比例；光電成像系統(tǒng)用于對待測光纖的第二端輸出的單波長光束進行光斑成像，并基于成像得到的光斑圖像獲取待測光纖的幾何參數(shù)。本實用新型在對大芯徑光纖進行幾何參數(shù)測量時，可形成高對比度的成像光斑，確保了測量結(jié)果的準確性。