測(cè)試板及測(cè)試系統(tǒng)
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202122406384.5 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN216816864U | 公開(公告)日 | 2022-06-24 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN216816864U | 申請(qǐng)公布日 | 2022-06-24 |
分類號(hào) | G01R31/28(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 程晨;周穎哲;謝勇 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 加特蘭微電子科技(上海)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京同立鈞成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | - |
地址 | 201210上海市自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)盛夏路666號(hào)、銀冬路122號(hào)5幢地下1層,1_10層901室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請(qǐng)?zhí)峁┑臏y(cè)試板及測(cè)試系統(tǒng),其中,所述測(cè)試板應(yīng)用于集成在待測(cè)板上的待測(cè)芯片進(jìn)行測(cè)試,所述待測(cè)板上設(shè)置有與所述待測(cè)芯片連接的測(cè)試連接器,所述測(cè)試板包括依次連接的測(cè)試座、連接器和串行外設(shè)接口;所述連接器與所述測(cè)試連接器可拆卸地連接;所述串行外設(shè)接口用于外接控制設(shè)備;所述測(cè)試座用于外接信號(hào)測(cè)試儀;其中,當(dāng)所述控制設(shè)備經(jīng)所述串行外設(shè)接口向所述待測(cè)芯片發(fā)送控制信號(hào)時(shí),所述待測(cè)芯片基于所述控制信號(hào)經(jīng)所述測(cè)試座向所述信號(hào)測(cè)試儀輸出對(duì)應(yīng)的工作信號(hào)。進(jìn)而,通過上述可拆卸地連接方式,將測(cè)試板與待測(cè)板連接在一起以實(shí)現(xiàn)芯片測(cè)試,測(cè)試完成后,測(cè)試板還可以通過連接器實(shí)現(xiàn)對(duì)其它芯片的測(cè)試,以節(jié)省測(cè)試成本。 |
