一種EMCCD倍增增益測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910956340.4 申請日 -
公開（公告）號 CN110687423B 公開（公告）日 2021-11-23
申請公布號 CN110687423B 申請公布日 2021-11-23
分類號 G01R31/26（2014.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 焦貴忠;孫麗麗;田波;秦盼;卜令旗;李蘇蘇 申請（專利權(quán)）人 華東光電集成器件研究所
代理機(jī)構(gòu) 安徽省蚌埠博源專利商標(biāo)事務(wù)所（普通合伙） 代理人 陳俊
地址 233030安徽省蚌埠市經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)湯和路2016號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種EMCCD倍增增益測試方法，包括以下步驟：a、選擇EMCCD的待測像元，對待測像元施加電源與時(shí)鐘信號，在無光條件下，測試得到像元輸出Udark；在對應(yīng)的光照條件下，逐級增加倍增電壓，得到有光條件下的像元輸出Vout；根據(jù)公式MRG=（Vout?Udark）/Udark計(jì)算倍增增益，公式中MRG為倍增增益；b、計(jì)算出白缺陷、暗缺陷與盲元像素，剔除缺陷像元；c、擬合倍增電極與倍增增益的關(guān)系曲線；通過不斷地施加倍增電極電壓，記錄倍增電壓值與此時(shí)倍增增益計(jì)算值，描繪倍增增益曲線圖，可以清晰給出倍增電極電壓與倍增增益的關(guān)系，填補(bǔ)了國內(nèi)外的空白。