一種EMCCD倍增增益測(cè)試方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201910956340.4 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN110687423B | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-11-23 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN110687423B | 申請(qǐng)公布日 | 2021-11-23 |
| 分類(lèi)號(hào) | G01R31/26（2014.01）I | 分類(lèi) | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 焦貴忠;孫麗麗;田波;秦盼;卜令旗;李蘇蘇 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 華東光電集成器件研究所 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 安徽省蚌埠博源專利商標(biāo)事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 陳俊 |
| 地址 | 233030安徽省蚌埠市經(jīng)濟(jì)開(kāi)發(fā)區(qū)湯和路2016號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)一種EMCCD倍增增益測(cè)試方法，包括以下步驟：a、選擇EMCCD的待測(cè)像元，對(duì)待測(cè)像元施加電源與時(shí)鐘信號(hào)，在無(wú)光條件下，測(cè)試得到像元輸出Udark；在對(duì)應(yīng)的光照條件下，逐級(jí)增加倍增電壓，得到有光條件下的像元輸出Vout；根據(jù)公式MRG=（Vout?Udark）/Udark計(jì)算倍增增益，公式中MRG為倍增增益；b、計(jì)算出白缺陷、暗缺陷與盲元像素，剔除缺陷像元；c、擬合倍增電極與倍增增益的關(guān)系曲線；通過(guò)不斷地施加倍增電極電壓，記錄倍增電壓值與此時(shí)倍增增益計(jì)算值，描繪倍增增益曲線圖，可以清晰給出倍增電極電壓與倍增增益的關(guān)系，填補(bǔ)了國(guó)內(nèi)外的空白。 |
