一種倒裝LED芯片在線檢測(cè)方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201410853302.3 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN104502829B | 公開(公告)日 | 2018-06-12 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN104502829B | 申請(qǐng)公布日 | 2018-06-12 |
分類號(hào) | G01R31/26;G01M11/02 | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 賀松平;陳騰飛;吳文超;鐘富強(qiáng);李達(dá);鄧宇書;楊璐;邱園紅 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 廣東志成華科光電設(shè)備有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 華中科技大學(xué)專利中心 | 代理人 | 梁鵬 |
地址 | 430074 湖北省武漢市洪山區(qū)珞喻路1037號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種倒裝LED芯片在線檢測(cè)方法,該方法包括:在工作中,運(yùn)輸傳送系統(tǒng)可以運(yùn)輸盤片工作臺(tái)到合適的工作區(qū)域,調(diào)整位姿之后,啟動(dòng)探測(cè)對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)對(duì)探針工作臺(tái)進(jìn)行控制,使探針與待測(cè)試的芯片接觸通電,使芯片發(fā)亮,從而收光測(cè)試組件可以對(duì)其進(jìn)行檢測(cè)。按照本發(fā)明的在線檢測(cè)方法,能夠成功地解決倒裝LED芯片電機(jī)和發(fā)光面不同側(cè)的問題,并且采用了精密圖像運(yùn)動(dòng)控制技術(shù),實(shí)現(xiàn)了倒裝LED芯片的高速精密測(cè)試,加快了芯片的檢測(cè)效率。按照本發(fā)明,能夠成功地解決倒裝LED芯片電極和發(fā)光面不在同一側(cè)的問題,配合高精度控制部件,實(shí)現(xiàn)倒裝LED芯片的快速在線檢測(cè)。 |
