一種倒裝LED芯片在線檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201410851996.7 申請日 -
公開（公告）號 CN104483106B 公開（公告）日 2017-11-24
申請公布號 CN104483106B 申請公布日 2017-11-24
分類號 G01M11/02(2006.01)I;G01R31/26(2014.01)I;G01R1/04(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 朱國文;尹旭升;朱文凱;陳騰飛;庫衛(wèi)東;林康華;湯瑞;賀松平 申請（專利權(quán)）人 廣東志成華科光電設(shè)備有限公司
代理機(jī)構(gòu) 華中科技大學(xué)專利中心 代理人 梁鵬
地址 430074 湖北省武漢市洪山區(qū)珞喻路1037號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種倒裝LED芯片在線檢測裝置，其包括：工作臺模塊、收光測試組件、運(yùn)輸傳輸組件、探針測試平臺、精密對準(zhǔn)系統(tǒng)，其中，在工作中，運(yùn)輸傳送系統(tǒng)可以運(yùn)輸盤片工作臺到合適的工作區(qū)域，調(diào)整位姿之后，啟動(dòng)探測對準(zhǔn)系統(tǒng)對探針工作臺進(jìn)行控制，使探針與待測試的芯片接觸通電，使芯片發(fā)亮，從而收光測試組件可以對其進(jìn)行檢測。按照本發(fā)明的機(jī)械結(jié)構(gòu)，能夠成功地解決倒裝LED芯片電機(jī)和發(fā)光面不同側(cè)的問題，并且采用了精密圖像運(yùn)動(dòng)控制技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了倒裝LED芯片的高速精密測試，加快了芯片的檢測效率。按照本發(fā)明，能夠成功地解決倒裝LED芯片電極和發(fā)光面不在同一側(cè)的問題，配合高精度控制部件，實(shí)現(xiàn)倒裝LED芯片的快速在線檢測。