一種芯片測試板

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202121202354.6 申請日 -
公開（公告）號 CN215493963U 公開（公告）日 2022-01-11
申請公布號 CN215493963U 申請公布日 2022-01-11
分類號 G01R31/28（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉峻峰;顧標(biāo)琴 申請（專利權(quán)）人 江蘇揚(yáng)杰潤奧半導(dǎo)體有限公司
代理機(jī)構(gòu) 南京源點(diǎn)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 潘云峰
地址 225000江蘇省揚(yáng)州市廣陵產(chǎn)業(yè)園創(chuàng)業(yè)路
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型屬于半導(dǎo)體制作設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種芯片測試板。應(yīng)用于芯片測試裝置上，芯片測試裝置包括傳遞盒，傳遞盒上開設(shè)有用于放置芯片的凹槽，芯片測試板包括導(dǎo)電基板，導(dǎo)電基板上陣列開設(shè)有與傳遞盒上凹槽對應(yīng)的測試槽。本實用新型用于解決芯片測試效率低的問題。在導(dǎo)電基板上陣列設(shè)置若干與傳遞盒上凹槽對應(yīng)的測試槽，在測試芯片時，只需將導(dǎo)電基板翻轉(zhuǎn)對準(zhǔn)傳遞盒，將傳遞盒中芯片全部翻轉(zhuǎn)放置在測試槽中，之后即可同時完成對所有測試槽中芯片的測試，提高測試效率。