一種運算性能測試方法、裝置、電子設備及存儲介質
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202011516181.5 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN112486792A | 公開（公告）日 | 2021-03-12 |
| 申請公布號 | CN112486792A | 申請公布日 | 2021-03-12 |
| 分類號 | G06F11/34(2006.01)I | 分類 | 計算；推算；計數(shù); |
| 發(fā)明人 | 閆亞闖 | 申請（專利權）人 | 北京安兔兔科技有限公司 |
| 代理機構 | 北京柏杉松知識產權代理事務所（普通合伙） | 代理人 | 丁蕓;趙元 |
| 地址 | 100041北京市石景山區(qū)實興大街30號院3號樓2層A-0049房間 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明實施例提供了一種運算性能測試方法、裝置、電子設備及存儲介質，通過生成隨機數(shù)，對所生成的隨機數(shù)進行判斷，如果所生成的隨機數(shù)為合數(shù)，則對該隨機數(shù)進行分解處理，統(tǒng)計預設時長內完成分解處理的合數(shù)數(shù)量，基于該合數(shù)數(shù)量，確定運算性能測試結果。整數(shù)主要分為合數(shù)和質數(shù)，任何一個合數(shù)都可以被分解為多個質數(shù)的乘積，經過對隨機生成的合數(shù)進行分解處理，并統(tǒng)計預設時長內完成分解處理的合數(shù)數(shù)量，能夠測試出電子設備對合數(shù)進行分解處理的能力，即一段時長內能夠對多少個合數(shù)完成分解處理，從而實現(xiàn)了對電子設備在整數(shù)運算方面的性能測試。?? |
