一種處理器性能測試方法及裝置
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202011516963.9 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN112559269A | 公開（公告）日 | 2021-03-26 |
| 申請公布號 | CN112559269A | 申請公布日 | 2021-03-26 |
| 分類號 | G06F11/22(2006.01)I | 分類 | 計算；推算；計數(shù); |
| 發(fā)明人 | 閆亞闖 | 申請（專利權）人 | 北京安兔兔科技有限公司 |
| 代理機構 | 北京柏杉松知識產(chǎn)權代理事務所（普通合伙） | 代理人 | 孟維娜;高鶯然 |
| 地址 | 100041北京市石景山區(qū)實興大街30號院3號樓2層A-0049房間 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明實施例提供了一種處理器性能測試方法及裝置，涉及電子設備測試技術領域，其中，上述方法包括：創(chuàng)建至少兩個運行于處理器上的線程；控制所創(chuàng)建的線程分別對無序數(shù)據(jù)組中的數(shù)據(jù)進行并行的排序處理，直至每一線程進行排序處理的累計時長分別不小于預設時長；統(tǒng)計各個線程完成排序處理的總次數(shù)；根據(jù)總次數(shù)，計算用于表示處理器的性能的性能值，得到測試結(jié)果。應用本發(fā)明實施例提供的方案能夠測試電子設備中處理器的性能。?? |
