一種處理器性能測(cè)試方法及裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202011516963.9 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN112559269A | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-03-26 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN112559269A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-03-26 |
| 分類(lèi)號(hào) | G06F11/22(2006.01)I | 分類(lèi) | 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 閆亞闖 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 | 北京安兔兔科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京柏杉松知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 孟維娜;高鶯然 |
| 地址 | 100041北京市石景山區(qū)實(shí)興大街30號(hào)院3號(hào)樓2層A-0049房間 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明實(shí)施例提供了一種處理器性能測(cè)試方法及裝置，涉及電子設(shè)備測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，其中，上述方法包括：創(chuàng)建至少兩個(gè)運(yùn)行于處理器上的線程；控制所創(chuàng)建的線程分別對(duì)無(wú)序數(shù)據(jù)組中的數(shù)據(jù)進(jìn)行并行的排序處理，直至每一線程進(jìn)行排序處理的累計(jì)時(shí)長(zhǎng)分別不小于預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)；統(tǒng)計(jì)各個(gè)線程完成排序處理的總次數(shù)；根據(jù)總次數(shù)，計(jì)算用于表示處理器的性能的性能值，得到測(cè)試結(jié)果。應(yīng)用本發(fā)明實(shí)施例提供的方案能夠測(cè)試電子設(shè)備中處理器的性能。?? |
