集成電路工藝檢測(cè)設(shè)備(Xi-Line 500)
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN200930099015.8 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN301139091D | 公開(公告)日 | 2010-02-17 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN301139091D | 申請(qǐng)公布日 | 2010-02-17 |
分類號(hào) | 10-05 | 分類 | - |
發(fā)明人 | 謝歷銘 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 上海澤爾尼儀器有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 上海世貿(mào)專利代理有限責(zé)任公司 | 代理人 | 上海澤爾尼儀器有限公司 |
地址 | 201411上海市奉賢區(qū)奉城鎮(zhèn)人本工業(yè)園德勝路111號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 1.使用本外觀設(shè)計(jì)的產(chǎn)品為大型落地產(chǎn)品,省略仰視圖。2.使用本外觀設(shè)計(jì)的產(chǎn)品為高精度全自動(dòng)無接觸集成電路工藝檢測(cè)設(shè)備。3.使用本外觀設(shè)計(jì)的產(chǎn)品用于全自動(dòng)無接觸封裝焊絲缺陷檢測(cè)。 |
