硅片線痕測(cè)量的測(cè)試頭
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201220135177.9 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN202494408U | 公開（公告）日 | 2012-10-17 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN202494408U | 申請(qǐng)公布日 | 2012-10-17 |
| 分類號(hào) | G01B5/00(2006.01)I;G01B5/06(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 韓波;丁杰;于才華;袁前程 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 寧波升科太陽(yáng)能股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 杭州金源通匯專利事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 寧波升科太陽(yáng)能股份有限公司 |
| 地址 | 315040 浙江省寧波市高新區(qū)凌云路1177號(hào)-7號(hào)樓（寧波升科太陽(yáng)能股份有限公司） | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型公開了一種硅片線痕測(cè)量的測(cè)試頭，包括測(cè)試頭本體，其特征是所述的測(cè)試頭本體為空腔結(jié)構(gòu)，其前端為尖頭結(jié)構(gòu)。其尖端部分的角度可以根據(jù)情況而設(shè)置。所述的測(cè)試頭本體上設(shè)有螺紋孔及與螺紋孔相配合的螺絲。測(cè)試時(shí)可通過螺絲將測(cè)試頭固定在千分尺的測(cè)砧上。本實(shí)用新型得到的硅片線痕測(cè)量的測(cè)試頭，克服現(xiàn)有千分尺無法深入測(cè)量敞口較為狹窄的物件，以及目前千分尺測(cè)試的局限性，而且能方便的安裝在普通千分尺上，對(duì)硅片進(jìn)行方便測(cè)量。 |
