一種x射線熒光光譜法定量檢測鈰元素的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011293418.8 申請日 -
公開（公告）號 CN112461877A 公開（公告）日 2021-03-09
申請公布號 CN112461877A 申請公布日 2021-03-09
分類號 G01N23/223(2006.01)I;G01N23/2202(2018.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 黃顯銘 申請（專利權(quán)）人 重慶長安工業(yè)（集團）有限責(zé)任公司
代理機構(gòu) 重慶大學(xué)專利中心 代理人 郭吉安
地址 401120重慶市渝北區(qū)空港大道599號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種x射線熒光光譜法定量檢測鈰元素的方法，其步驟包括：1)購買GBW鎂合金標(biāo)準(zhǔn)樣品；2)GBW鎂合金標(biāo)準(zhǔn)樣品加工；3)x射線熒光光譜儀器的通電及光管的老化處理；4)用標(biāo)準(zhǔn)樣品建立工作曲線參數(shù)設(shè)置及譜線干擾的消除；5)用標(biāo)準(zhǔn)樣品建立工作曲線；6)用標(biāo)準(zhǔn)樣品建立的工作曲線檢測待測樣品；7)從計算機上獲取結(jié)果或者直接打印出檢測結(jié)果；8)整理檢測報告。本發(fā)明克服了現(xiàn)有波長色散X射線熒光光譜儀技術(shù)不足，實現(xiàn)第三方公正對比檢測，進一步完善產(chǎn)品質(zhì)量保證評價體系，確保產(chǎn)品質(zhì)量的均勻性、穩(wěn)定性的要求，確保鎂合金光譜標(biāo)準(zhǔn)樣品在X熒光儀器上獲得滿意的分析結(jié)果。??