一種非自對準工藝形成的半導體器件及其方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201110226861.8 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN102931140A | 公開(公告)日 | 2013-02-13 |
申請公布號 | CN102931140A | 申請公布日 | 2013-02-13 |
分類號 | H01L21/8234(2006.01)I;H01L27/088(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 鐘匯才 | 申請(專利權)人 | 長沙艾爾豐華電子科技有限公司 |
代理機構 | 北京市立方律師事務所 | 代理人 | 長沙艾爾豐華電子科技有限公司 |
地址 | 410003 湖南省長沙市長沙經(jīng)濟技術開發(fā)區(qū)管委會信息樓12樓(三一路2號) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提出了一種非自對準溝道工藝形成半導體器件的方法,所述方法包括:提供半導體襯底;在所述半導體襯底內(nèi)形成半導體層,所述半導體層由隔離區(qū)隔離開;進行重摻雜離子注入,以在半導體層內(nèi)形成重摻雜區(qū),然后進行高溫退火激活摻雜離子;在所述半導體層上形成柵極區(qū)。其后進行CMOS器件工藝流程,沉積器件間絕緣層,形成器件接觸塞等。本發(fā)明提出的上述方案,簡化了芯片制造工藝,降低了成本,從而形成價格低且質量高的半導體器件。 |
