一種重離子微孔膜泡點(diǎn)測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201420867495.3 申請日 -
公開（公告）號 CN204365151U 公開（公告）日 2015-06-03
申請公布號 CN204365151U 申請公布日 2015-06-03
分類號 B01D65/10(2006.01)I 分類 一般的物理或化學(xué)的方法或裝置;
發(fā)明人 劉澤超;安孟稼;李甫;李愛萍 申請（專利權(quán)）人 北京南洋慧通新技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京市盛峰律師事務(wù)所 代理人 于國富
地址 100085 北京市海淀區(qū)上地東路35號院2號樓2-110
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型是一種重離子微孔膜泡點(diǎn)測試裝置，該泡點(diǎn)測試裝置包括：底座、兩個(gè)定位銷、墊圈、觀察器和端蓋；所述端蓋套合在所述觀察器上表面，且與所述底座固定連接；兩個(gè)所述定位銷將所述觀察器限位在所述底座的上表面；所述墊圈設(shè)置在所述觀察器和所述底座之間，且陷于所述觀察器底面上設(shè)置的墊圈凹槽內(nèi)。本實(shí)用新型解決了現(xiàn)有檢測重離子微孔膜孔徑的方法中使用的測試裝置存在測樣耗時(shí)長、裝置操作技術(shù)要求高、造價(jià)和維護(hù)成本高及應(yīng)用范圍受限的問題。