一種基于灰度共生矩陣的像質(zhì)計偏離角度檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811169379.3 申請日 -
公開（公告）號 CN109300129A 公開（公告）日 2019-02-01
申請公布號 CN109300129A 申請公布日 2019-02-01
分類號 G06T7/00;G06T7/136 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 昌亞勝;汪軍 申請（專利權(quán)）人 蘇州宏凡信息科技有限公司
代理機構(gòu) 西安通大專利代理有限責任公司 代理人 蘇州宏凡信息科技有限公司;昌亞勝
地址 215000 江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)淞江路208號1幢110室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于灰度共生矩陣的像質(zhì)計偏離角度檢測方法，獲得數(shù)字化的焊縫射線底片，然后將射線照相拍攝的膠片轉(zhuǎn)換成數(shù)字化底片；對獲得的焊縫數(shù)字化底片進行預處理；計算焊縫射線圖像的灰度共生矩陣；繪制每個角度對應的相關(guān)性特征值隨角度變化的圖譜；找出最大相關(guān)性特征值的角度；根據(jù)相關(guān)性特征值最大的點對應的角度確定像質(zhì)計偏離角度。本發(fā)明可以快速準確地計算出圖像中像質(zhì)計的偏離角度，亦可應用到其他涉及圖像中直線角度的計算。