一種四丁基脲中硫、氯含量的檢測(cè)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201910732886.1 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN110455842A 公開(kāi)（公告）日 2019-11-15
申請(qǐng)公布號(hào) CN110455842A 申請(qǐng)公布日 2019-11-15
分類(lèi)號(hào) G01N23/223 分類(lèi) 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 潘偉中;朱晶晶;馮曉梅 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 湖州吉昌化學(xué)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京方圓嘉禾知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 湖州吉昌化學(xué)有限公司
地址 313000浙江省湖州市南潯區(qū)和孚鎮(zhèn)重兆村龍門(mén)橋莊介山
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種四丁基脲中硫、氯含量的檢測(cè)方法，本發(fā)明的四丁基脲中硫、氯含量的檢測(cè)方法，其檢測(cè)原理是樣品受X射線照射后，樣品中待測(cè)元素中的原子內(nèi)殼層電子被激發(fā)，并產(chǎn)生殼層電子躍遷而發(fā)射出該元素的特征X射線，通過(guò)探測(cè)器測(cè)量元素特征X射線的波長(zhǎng)（能量)的強(qiáng)度與濃度的比例關(guān)系，進(jìn)行定量分析。本發(fā)明采用單波長(zhǎng)X射線熒光光譜儀，其利用雙曲面變晶技術(shù)，使得被檢測(cè)元素具有高選擇性和高靈敏度，具有檢測(cè)時(shí)間短（檢測(cè)時(shí)間為60~300秒），檢測(cè)操作簡(jiǎn)單，檢測(cè)數(shù)據(jù)穩(wěn)定性好、準(zhǔn)確度高（標(biāo)準(zhǔn)偏差：≤0.5ppm(檢測(cè)范圍1~5ppm)，≤2.5ppm(檢測(cè)范圍1~50ppm)，檢測(cè)成本低等優(yōu)點(diǎn)。