高通量測序突變檢測結(jié)果的統(tǒng)計(jì)學(xué)驗(yàn)證方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201610046810.X 申請日 -
公開（公告）號 CN105574365B 公開（公告）日 2018-10-26
申請公布號 CN105574365B 申請公布日 2018-10-26
分類號 G06F19/24 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 劉志源;張靜波;陳威 申請（專利權(quán)）人 北京圣谷同創(chuàng)科技發(fā)展有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京中政聯(lián)科專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 北京圣谷同創(chuàng)科技發(fā)展有限公司
地址 100089 北京市海淀區(qū)東北旺西路8號9號樓二區(qū)104、105號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及高通量測序突變檢測結(jié)果的驗(yàn)證方法，所述方法包括，首先建立感興趣突變的陰性背景突變頻率庫，基于該陰性背景突變頻率庫，通過Z檢驗(yàn)來驗(yàn)證高通量測序突變檢測結(jié)果中單核苷酸取代類型的突變檢測結(jié)果，通過卡方檢驗(yàn)來驗(yàn)證高通量測序突變檢測結(jié)果中連續(xù)多核苷酸缺失類型的突變檢測結(jié)果。本發(fā)明方法可以實(shí)現(xiàn)對高通量測序突變檢測結(jié)果的零成本驗(yàn)證，并且具有較高的正確性和靈敏度。