芯片最高頻率的搜索方法、裝置和測試設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210334080.9 申請日 -
公開（公告）號 CN114660441A 公開（公告）日 2022-06-24
申請公布號 CN114660441A 申請公布日 2022-06-24
分類號 G01R31/28（2006.01）I;G01R23/02（2006.01）I;G06F16/903（2019.01）I;G06F16/901（2019.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張新華 申請（專利權(quán)）人 展訊通信（天津）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京匯思誠業(yè)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 -
地址 300450天津市濱海新區(qū)自貿(mào)試驗(yàn)區(qū)（天津港保稅區(qū)）通達(dá)廣場1號A2-408
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請實(shí)施例提出了一種芯片最高頻率的搜索方法、裝置和測試設(shè)備，上述芯片最高頻率的搜索方法包括：獲取待測芯片在目標(biāo)電壓下的預(yù)測最高頻率；根據(jù)所述預(yù)測最高頻率生成搜索頻點(diǎn)集合；采用所述搜索頻點(diǎn)集合中的各搜索頻點(diǎn)進(jìn)行最高頻率測試，得到所述待測芯片在所述目標(biāo)電壓下的實(shí)際最高頻率。上述方法實(shí)現(xiàn)了快速且準(zhǔn)確的探測不同芯片在不同電壓下芯片可正常工作的最高頻率。