一種結構光三維測量方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811185895.5 申請日 -
公開（公告）號 CN109945802A 公開（公告）日 2019-06-28
申請公布號 CN109945802A 申請公布日 2019-06-28
分類號 G01B11/25（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 郭煒煒; 周劍; 張增輝; 桑林林 申請（專利權）人 蘇州深淺優(yōu)視智能科技有限公司
代理機構 上海申新律師事務所 代理人 寧波深淺優(yōu)視智能科技有限公司;蘇州深淺優(yōu)視智能科技有限公司
地址 315000 浙江省寧波市余姚市陽明街道長新路49號7221室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種結構光三維測量方法，屬于計算機視覺技術領域；方法包括：步驟S1，采用深度預測模型對目標物體的表面形成的第一變化圖像進行預測，得到目標物體的深度圖像；步驟S2，根據不同相移的第二變化圖像，計算每一點的主值相位，并利用深度圖像，對第二變化圖像中每一點的主值相位進行相位展開處理，以得到連續(xù)相位場的分布圖；步驟S3，采用標定的系統(tǒng)參數對連續(xù)相位場的分布圖進行處理，以得到得到目標物體的表面每一個三維點的坐標，從而實現對目標物體的三維測量。上述技術方案的有益效果是：能夠減少投射圖像的數量，提高空間編碼的效率和質量，最終獲得高精度的三維測量結果。