圖騰柱結(jié)構(gòu)測試修調(diào)電路
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN201921118398.3 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN211123152U | 公開（公告）日 | 2020-07-28 |
| 申請公布號 | CN211123152U | 申請公布日 | 2020-07-28 |
| 分類號 | G01R31/316(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I | 分類 | - |
| 發(fā)明人 | 楊澍 | 申請（專利權(quán)）人 | 華潤賽美科微電子（深圳）有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人 | 華潤賽美科微電子（深圳）有限公司 |
| 地址 | 518172廣東省深圳市龍崗區(qū)寶龍工業(yè)區(qū)寶龍五路5號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實用新型涉及一種圖騰柱結(jié)構(gòu)測試修調(diào)電路，包括：自動測試設(shè)備、供電電路、圖騰柱陣列和被測器件，其中：所述自動測試設(shè)備用于對被測器件進(jìn)行測試；所述供電電路的輸入端連接所述自動測試設(shè)備的供電電源，輸出端連接所述圖騰柱陣列的輸入端，并用于對所述圖騰柱陣列供電；所述圖騰柱陣列的輸出端連接所述被測器件，并用于對所述被測器件的熔絲進(jìn)行修調(diào)，調(diào)整所述自動測試設(shè)備對所述被測器件的測試結(jié)果。本實用新型提供的圖騰柱結(jié)構(gòu)測試修調(diào)電路，通過使用自動測試設(shè)備的供電電源，無需占用自動測試設(shè)備的VI源，解決了傳統(tǒng)修調(diào)電路中占用VI源的問題，可以最大化地提升修調(diào)類產(chǎn)品的生產(chǎn)測試效率。?? |
