芯片頻率測量裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202021218373.3 申請日 -
公開（公告）號 CN213069006U 公開（公告）日 2021-04-27
申請公布號 CN213069006U 申請公布日 2021-04-27
分類號 G01R23/02;G01R31/28 分類 測量；測試;
發(fā)明人 楊澍 申請（專利權(quán)）人 華潤賽美科微電子（深圳）有限公司
代理機構(gòu) 廣州華進聯(lián)合專利商標代理有限公司 代理人 虞凌霄
地址 518172 廣東省深圳市龍崗區(qū)寶龍工業(yè)區(qū)寶龍五路5號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及一種芯片頻率測量裝置，包括自動測試設(shè)備，自動測試設(shè)備包括多個電壓電流源，所述裝置還包括：多個頻率電壓轉(zhuǎn)換器，包括周期信號輸入腳和電壓信號輸出腳，用于將由周期信號輸入腳輸入的周期信號轉(zhuǎn)換為電壓信號并通過電壓信號輸出腳輸出；每個頻率電壓轉(zhuǎn)換器通過電壓信號輸出腳連接一電壓電流源，每個頻率電壓轉(zhuǎn)換器通過周期信號輸入腳連接一被測芯片的頻率輸出端；其中，所述自動測試設(shè)備用于通過各所述電壓電流源測試對應(yīng)被測芯片輸出的周期信號的頻率。本實用新型能夠同時測試大量芯片的周期信號的頻率，解決了自動測試設(shè)備使用TMU測試芯片頻率時同測數(shù)少的問題，實現(xiàn)了同測數(shù)和測試效率的提升。