金檢機(jī)及金檢機(jī)發(fā)射模塊
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202011633822.5 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN112612062A | 公開（公告）日 | 2021-04-06 |
| 申請公布號 | CN112612062A | 申請公布日 | 2021-04-06 |
| 分類號 | G01V3/11(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 殷星;牟翔;施利輝;幸波 | 申請（專利權(quán)）人 | 上海太易檢測技術(shù)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 上?？剖⒅R產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 蔡彭君 |
| 地址 | 200237上海市徐匯區(qū)嘉川路245號3號樓506室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明涉及一種金檢機(jī)及金檢機(jī)發(fā)射模塊，其中金檢機(jī)包括第一驅(qū)動電路、發(fā)射線圈和第一接收線圈、第二接收線圈，金檢機(jī)還包括第一屏蔽線圈和第二屏蔽線圈，第一屏蔽線圈、第一接收線圈、發(fā)射線圈、第二接收線圈和第二屏蔽線圈依次排列，發(fā)射線圈、第一屏蔽線圈和第二屏蔽線圈均連接至第一驅(qū)動電路，且第一屏蔽線圈和第二屏蔽線圈中的電流方向相同，并均與發(fā)射線圈中的電流方向相反，其中，電流方向為順時針或逆時針方向。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明通過設(shè)計了兩個屏蔽線圈，分別位于兩個接收線圈之外，并且兩個屏蔽線圈的磁場方向與發(fā)射線圈的磁場方向相反，從而可以抵消發(fā)射線圈的磁場，減小金屬區(qū)，進(jìn)而便于小型化使金檢機(jī)產(chǎn)線的布局更加緊湊。?? |
