一種發(fā)射線圈驅(qū)動(dòng)電路及方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201911046977.6 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN110703339A 公開(kāi)（公告）日 2021-07-06
申請(qǐng)公布號(hào) CN110703339A 申請(qǐng)公布日 2021-07-06
分類號(hào) G01V3/10 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 殷星;牟翔 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 上海太易檢測(cè)技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上?？剖⒅R(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 蔡彭君
地址 200237 上海市徐匯區(qū)嘉川路245號(hào)3號(hào)樓506室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種發(fā)射線圈驅(qū)動(dòng)電路及方法，其中驅(qū)動(dòng)電路包括采集控制調(diào)試模塊、放大模塊、反饋電路模塊，所述反饋模塊的一端與發(fā)射模塊連接，另一端與放大模塊的輸入端連接，所述放大模塊的輸入端還連接至采集控制調(diào)試模塊，輸出端連接至發(fā)射模塊；當(dāng)負(fù)載發(fā)射線圈改變時(shí)，通過(guò)調(diào)節(jié)反饋模塊，由采集控制調(diào)試模塊控制線圈諧振電壓，從而保證磁場(chǎng)強(qiáng)度和檢測(cè)精度。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有可以在一定程度下彌補(bǔ)由于線圈工藝不同造成的產(chǎn)品差異性等優(yōu)點(diǎn)。