大芯徑光纖衰減系數(shù)測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111559023.2 申請日 -
公開（公告）號 CN114221696A 公開（公告）日 2022-03-22
申請公布號 CN114221696A 申請公布日 2022-03-22
分類號 H04B10/071（2013.01）I;H04B10/079（2013.01）I;G02B6/25（2006.01）I;G02B6/255（2006.01）I 分類 電通信技術;
發(fā)明人 徐進;張承炎;陳章汝 申請（專利權）人 長飛光纖光纜股份有限公司
代理機構 湖北武漢永嘉專利代理有限公司 代理人 胡建平;孫方旭
地址 430073湖北省武漢市東湖新技術開發(fā)區(qū)光谷大道9號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種大芯徑光纖衰減系數(shù)測試方法，樣品光纖Xn的一端放置在光纖拉錐機中，將其芯徑Rn熔融拉錐至Rn+1，樣品光纖Xn被制作成為橋纖Yn。將所制作的橋纖根據(jù)光纖芯徑大小依次排列，使用大直徑光纖熔接機將各個橋纖中芯徑匹配的一端熔接起來。將尾纖ZN芯徑為R的一端連接到OTDR上，使用芯徑為R0的一端與待測光纖通過光纖耦合器連接，使用OTDR對待測光纖進行測試，得到待測光纖的衰減系數(shù)測試結果。本發(fā)明測試的方法對于各種類型及不同工藝方法制造的大芯徑光纖的測試均可方便實現(xiàn)，測試結果可行，能極大的提高生產(chǎn)測試效率降低測試成本并解決衰減均勻性測試困難的問題。