天線陣列的校正方法、裝置、計算機設備和存儲介質

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010252889.8 申請日 -
公開（公告）號 CN111308412B 公開（公告）日 2020-06-19
申請公布號 CN111308412B 申請公布日 2020-06-19
分類號 G01S3/02(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 龍必起 申請（專利權）人 深圳市華智芯聯(lián)科技有限公司
代理機構 廣州華進聯(lián)合專利商標代理有限公司 代理人 唐彩琴
地址 518172廣東省深圳市龍崗區(qū)坂田街道天安云谷產業(yè)園一期2棟201
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請涉及一種天線陣列的校正方法、裝置、計算機設備和存儲介質，在獲取從多個分時方向入射到七陣元六邊形的天線陣列的信號源數(shù)據(jù)后，通過預設的交替迭代法對各信號源數(shù)據(jù)中耦合矩陣，以及包括幅度誤差矩陣和相位誤差矩陣的天線陣列的相幅誤差矩陣進行聯(lián)合更新，得到目標耦合矩陣和目標相幅誤差矩陣，并根據(jù)目標耦合矩陣和目標相幅誤差矩陣，對新接收的信號源數(shù)據(jù)進行補償校正，得到的補償校正后的信號源數(shù)據(jù)表征對天線陣列誤差校正后接收的信號源數(shù)據(jù)。該方法可以有效地對七陣元六邊形天線陣列的誤差進行聯(lián)合校正。??