一種SERS芯片測(cè)試裝置
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202121417991.5 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN214953941U | 公開(公告)日 | 2021-11-30 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN214953941U | 申請(qǐng)公布日 | 2021-11-30 |
分類號(hào) | G01R31/28(2006.01)I;G01R1/02(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 涂衛(wèi)東;黃麗波 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 廣東天鑒檢測(cè)技術(shù)服務(wù)股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 深圳市正德知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) | 代理人 | 楊正峰;楊佳龍 |
地址 | 518000廣東省深圳市寶安區(qū)67區(qū)留仙一路甲岸科技園1號(hào)廠房7樓(辦公場(chǎng)所) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實(shí)用新型涉及芯片測(cè)試裝置技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種SERS芯片測(cè)試裝置,包括底座,所述底座的頂面安裝有檢測(cè)儀本體和機(jī)械臂,所述機(jī)械臂的一端固連有抓取機(jī)構(gòu),所述抓取機(jī)構(gòu)包括固定件,所述固定件的內(nèi)部開設(shè)有空腔,所述固定件的頂面中心位置開設(shè)有貫穿孔。本實(shí)用新型中,通過(guò)限位盤和固定件的設(shè)置,當(dāng)吸盤將芯片吸起后,驅(qū)動(dòng)盤轉(zhuǎn)動(dòng)帶動(dòng)四個(gè)直角卡接件向中間靠攏對(duì)芯片進(jìn)行擠壓卡接,四個(gè)直角卡接件將芯片夾在中間位置,實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片位置的調(diào)整和限位,從而修正芯片的位置誤差,使得芯片與限位環(huán)中心對(duì)齊,便于機(jī)械手準(zhǔn)確將芯片放進(jìn)檢測(cè)儀本體的檢測(cè)槽內(nèi),避免人工頻繁調(diào)整芯片位置和放置芯片。 |
