一種電路元器件工作壽命抽樣檢驗方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110248555.8 申請日 -
公開（公告）號 CN112906231A 公開（公告）日 2021-06-04
申請公布號 CN112906231A 申請公布日 2021-06-04
分類號 G06F30/20;G06F111/08;G06F119/04;G06F119/08;G06F119/14 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 張南法;束靜;張梅 申請（專利權(quán)）人 常州市創(chuàng)捷防雷電子有限公司
代理機構(gòu) 北京中濟緯天專利代理有限公司 代理人 丁燕華
地址 213000 江蘇省常州市鐘樓經(jīng)濟開發(fā)區(qū)銀杏路62號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種電路元器件工作壽命抽樣檢驗方法，適用于形狀參數(shù)β為已知的Weibull壽命分布電路元器件的工作壽命抽樣，采用定時截尾一次計數(shù)抽樣檢驗方法，即從總體中抽出規(guī)定的樣本容量n,在規(guī)定的工作應(yīng)力下，試驗到規(guī)定時間t時截止試驗，試驗中出現(xiàn)的不合格樣品數(shù)r，不應(yīng)超過規(guī)定的合格判定數(shù)c。本發(fā)明設(shè)計的抽樣檢驗方案，解決了目前壓敏電阻器（MOV）和避雷器閥片（MOA）無壽命評定方法可循的難題。