一種內(nèi)存測試方法及內(nèi)存測試設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201911382043.X 申請日 -
公開（公告）號 CN113053452A 公開（公告）日 2021-06-29
申請公布號 CN113053452A 申請公布日 2021-06-29
分類號 G11C29/50;G11C29/56 分類 信息存儲;
發(fā)明人 韓小兵;戴清海;鐘衍徽 申請（專利權(quán)）人 中山市江波龍電子有限公司
代理機構(gòu) 深圳市威世博知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 黎堅怡
地址 528400 廣東省中山市翠亨新區(qū)和清路9號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種內(nèi)存測試方法，包括：控制待測內(nèi)存的至少一個工作電壓和/或運行頻率按照預(yù)設(shè)規(guī)則進行變化；以及在變化中的至少一個工作電壓和/或運行頻率下，控制執(zhí)行至少一個圖形算法，以對所述待測內(nèi)存進行測試。本發(fā)明還提供相應(yīng)的內(nèi)存測試設(shè)備。本發(fā)明能夠有效提高良品率。