一種測試座

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202020809330.6 申請日 -
公開（公告）號 CN213023212U 公開（公告）日 2021-04-20
申請公布號 CN213023212U 申請公布日 2021-04-20
分類號 G01R1/04(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 任楚建;鐘衍徽;程振 申請（專利權）人 中山市江波龍電子有限公司
代理機構 深圳市威世博知識產(chǎn)權代理事務所（普通合伙） 代理人 何倚雯
地址 528400廣東省中山市翠亨新區(qū)和清路9號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開了一種測試座，該測試座包括底座、蓋體和溫控組件，其中，底座上設置有測試組件和彈針，蓋體連接所述底座，且可相對于所述底座轉動形成蓋合狀態(tài)或分離狀態(tài)，所述蓋體朝向所述底座的一側設置有壓塊，用于在所述底座和所述蓋體呈蓋合狀態(tài)時，對所述底座上放置的待測件進行按壓，以使所述待測件與所述測試組件接觸，溫控組件設置于所述蓋體和所述壓塊之間，用于通過所述壓塊進行熱傳導，對所述待測件進行溫度檢測和溫度控制，并在所述底座和所述蓋體呈蓋合狀態(tài)時，接觸所述彈針以通過所述彈針連接外部電路板。通過上述方式，本申請能夠在測試芯片時調節(jié)并采集芯片的溫度，以準確管控芯片測試的溫度條件。??