一種芯片測試數(shù)據(jù)處理方法、裝置及芯片

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910614503.0 申請日 -
公開（公告）號 CN110399282A 公開（公告）日 2019-11-01
申請公布號 CN110399282A 申請公布日 2019-11-01
分類號 G06F11/34（2006.01）I; G06F11/22（2006.01）I; G06F11/263（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 楊麗寧 申請（專利權）人 西安芯海微電子科技有限公司
代理機構 深圳協(xié)成知識產(chǎn)權代理事務所（普通合伙） 代理人 西安芯海微電子科技有限公司
地址 710000 陜西省西安市高新區(qū)丈八街辦唐延南路8號3G智能終端產(chǎn)業(yè)園A座5-01
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本文公開了一種芯片測試數(shù)據(jù)處理方法、裝置及芯片，屬于集成電路技術領域，該方法包括：獲取芯片中待測試功能模組的監(jiān)測數(shù)據(jù)；對所述監(jiān)測數(shù)據(jù)進行數(shù)據(jù)分析，獲得有效數(shù)據(jù)；根據(jù)預設的數(shù)據(jù)控制邏輯對所述有效數(shù)據(jù)進行采集，獲得待測試數(shù)據(jù)；將所述待測試數(shù)據(jù)輸出至至少一個測試端口；進行測試；通過對芯片內(nèi)部的邏輯功能模塊輸出的監(jiān)測，加快了芯片測試速度，且可應用于各種芯片中，覆蓋率較高，普適性強。