芯片檢測過程中的穩(wěn)定性檢測方法及系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111660792.1 申請日 -
公開（公告）號 CN114414986A 公開（公告）日 2022-04-29
申請公布號 CN114414986A 申請公布日 2022-04-29
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 顧黎明 申請（專利權(quán)）人 蘇州知瑞光電材料科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 常州市權(quán)航專利代理有限公司 代理人 張佳文
地址 215500江蘇省蘇州市常熟高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)賢士路1號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明實(shí)施例提供了一種芯片檢測過程中的穩(wěn)定性檢測方法及系統(tǒng)，通過依據(jù)設(shè)定的針對芯片生產(chǎn)操作活動的芯片生產(chǎn)操作活動數(shù)據(jù)進(jìn)行訓(xùn)練得到的生產(chǎn)穩(wěn)定性決策網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行訓(xùn)練得到的生產(chǎn)穩(wěn)定性決策網(wǎng)絡(luò)對所述芯片生產(chǎn)操作活動日志進(jìn)行生產(chǎn)穩(wěn)定性決策特征提??；將生產(chǎn)穩(wěn)定性決策網(wǎng)絡(luò)生成的各個芯片生產(chǎn)操作活動的生產(chǎn)穩(wěn)定性決策特征分別與預(yù)先獲得的目標(biāo)樣本芯片生產(chǎn)操作活動日志的生產(chǎn)穩(wěn)定性決策特征進(jìn)行比對，得到特征比對信息，從而可以決策獲得的各生產(chǎn)穩(wěn)定性決策特征是否匹配訓(xùn)練依據(jù)存儲條件。若匹配訓(xùn)練依據(jù)存儲條件，則將相關(guān)的芯片生產(chǎn)操作活動日志進(jìn)行訓(xùn)練依據(jù)存儲。如此，可以對芯片生產(chǎn)操作活動日志進(jìn)行生產(chǎn)穩(wěn)定性決策后進(jìn)行后續(xù)處理。