產(chǎn)品表面缺陷的檢測方法、裝置、終端設(shè)備及介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010395324.5 申請日 -
公開（公告）號 CN111598857A 公開（公告）日 2020-08-28
申請公布號 CN111598857A 申請公布日 2020-08-28
分類號 G06T7/00(2017.01)I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 黃耀;陳光斌;吳雨培 申請（專利權(quán)）人 北京阿丘機(jī)器人科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市世紀(jì)恒程知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 代理人 王韜
地址 100190北京市海淀區(qū)中關(guān)村東路66號2號樓12層1505
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種產(chǎn)品表面缺陷的檢測方法、裝置、終端設(shè)備及存儲介質(zhì)，通過采集產(chǎn)品表面的原始圖像；將所述原始圖像輸入至預(yù)設(shè)深度學(xué)習(xí)模型，以獲取所述原始圖像的第一圖像特征和所述原始圖像對應(yīng)還原圖像的第二圖像特征；對比所述第一圖像特征和所述第二圖像特征得到差異圖像；將所述差異圖像對應(yīng)的各圖像區(qū)域中，差異值大于預(yù)設(shè)閾值的目標(biāo)圖像區(qū)域確定為產(chǎn)品表面的缺陷區(qū)域。本發(fā)明基于工業(yè)領(lǐng)域具有好品圖多而缺陷圖少的特點，利用好品圖訓(xùn)練深度學(xué)習(xí)以用于缺陷檢測，避免了傳統(tǒng)以缺陷圖訓(xùn)練深度學(xué)習(xí)由于缺少訓(xùn)練數(shù)據(jù)導(dǎo)致得到的深度學(xué)習(xí)模型訓(xùn)練效果差、檢測不準(zhǔn)確的問題，提升了檢測效率。??