一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及其形成方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202010371271.3 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN111508851A | 公開(kāi)(公告)日 | 2020-08-07 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN111508851A | 申請(qǐng)公布日 | 2020-08-07 |
分類號(hào) | H01L21/50;H01L21/56;H01L23/29;H01L23/31;H01L23/552 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 侯新飛 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 芯瑞微(上海)電子科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京華際知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 葉宇 |
地址 | 201306 上海市浦東新區(qū)中國(guó)(上海)自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)臨港新片區(qū)環(huán)湖西二路888號(hào)C樓 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提出的一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及其形成方法,包括以下步驟:在基板上設(shè)置多個(gè)半導(dǎo)體芯片,通過(guò)研磨或切割工藝使得每個(gè)所述半導(dǎo)體芯片的四個(gè)側(cè)面均為傾斜側(cè)面;在所述基板上依次形成電介層、第一銀納米線/銀納米顆粒復(fù)合層、第一封裝層、第二納米線/銀納米顆粒復(fù)合層、第二封裝層、第三納米線/銀納米顆粒復(fù)合層、第三封裝層、第四納米線/銀納米顆粒復(fù)合層以及第四封裝層,接著進(jìn)行熱壓合處理。 |
