用于非晶硒薄膜的蒸發(fā)鍍膜機
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201320745620.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN203668497U | 公開(公告)日 | 2014-06-25 |
申請公布號 | CN203668497U | 申請公布日 | 2014-06-25 |
分類號 | C23C14/06(2006.01)I;C23C14/24(2006.01)I;C23C14/54(2006.01)I | 分類 | 對金屬材料的鍍覆;用金屬材料對材料的鍍覆;表面化學處理;金屬材料的擴散處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學氣相沉積法的一般鍍覆;金屬材料腐蝕或積垢的一般抑制〔2〕; |
發(fā)明人 | 毛念新;嚴仲君;黃翔鄂;王新征 | 申請(專利權)人 | 上海嘉森真空科技有限公司 |
代理機構 | 上海申匯專利代理有限公司 | 代理人 | 金碎平 |
地址 | 201812 上海市嘉定區(qū)曹安路3652號6棟 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實用新型公開了一種用于非晶硒薄膜的蒸發(fā)鍍膜機,包括真空密封的鍍膜室,所述鍍膜室內設有蒸發(fā)源和基片,其中,所述鍍膜室的中間區(qū)域為鍍膜區(qū),左右兩側為控溫區(qū),所述蒸發(fā)源設置在鍍膜區(qū)內,所述鍍膜區(qū)和控溫區(qū)內設有導軌,所述基片的背面貼有銅背板并通過基片架固定在導軌上。本實用新型提供的用于非晶硒薄膜的蒸發(fā)鍍膜機,當基片溫度由于蒸鍍后升高且接近臨界安全溫度時,基片沿著導軌移動并停留在左端或右端控溫區(qū)降溫,在溫度降至安全溫度后再返回鍍膜區(qū)繼續(xù)鍍膜,直至厚度達到要求且溫度降至安全溫度后出料,從而保證鍍膜的均勻性,有效避免散熱不均勻或冷卻過快導致的基片損壞,提高產品合格率。 |
