一種利用吸收式μ介子放射線照相法檢測(cè)和定位結(jié)構(gòu)的方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201910983920.2 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN110727032A | 公開（公告）日 | 2020-01-24 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN110727032A | 申請(qǐng)公布日 | 2020-01-24 |
| 分類號(hào) | G01V5/00;G01N23/06 | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 吳倩倩;方敏;李揚(yáng);袁榮;王濤 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 亳州文青測(cè)量技術(shù)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 蕪湖思誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 房文亮 |
| 地址 | 236800 安徽省亳州市譙城區(qū)亳州蕪湖現(xiàn)代產(chǎn)業(yè)園區(qū)合歡路76號(hào)科技孵化樓內(nèi) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種利用吸收式μ介子放射線照相法檢測(cè)和定位結(jié)構(gòu)的方法，涉及探測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，該方法中包括用于探測(cè)用的處理器和探測(cè)器鏡頭，為檢測(cè)和跟蹤通過(guò)預(yù)定體積的μ介子的裝置，所述方法包括以下步驟：μ介子的第一組軌跡的獲取，μ介子的第二組軌跡的獲取，識(shí)別映射區(qū)域的邊界以獲得信號(hào)區(qū)域以及計(jì)算通過(guò)信號(hào)區(qū)域的結(jié)構(gòu)的大小和形狀，本發(fā)明的方法用于被包裹在大量其他物質(zhì)中的物體的檢測(cè)、定位以及幾何重建，尤其是隱藏的腔體類物質(zhì)或重物，同時(shí)還具有更高的精度。 |
