基于四元數(shù)掃描成像模型的衛(wèi)星輻射計熱形變誤差補償方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111638132.3 申請日 -
公開（公告）號 CN114295092A 公開（公告）日 2022-04-08
申請公布號 CN114295092A 申請公布日 2022-04-08
分類號 G01B21/04（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 范志超;黃攀;崔雅;孫鑫;陳曉東;魏向元;紀(jì)思遠(yuǎn);張磊;侯志遠(yuǎn) 申請（專利權(quán)）人 航天科工智能運籌與信息安全研究院（武漢）有限公司
代理機構(gòu) 中國兵器工業(yè)集團公司專利中心 代理人 王雪芬
地址 430040湖北省武漢市臨空港經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)五環(huán)大道666號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種基于四元數(shù)掃描成像模型的衛(wèi)星輻射計熱形變誤差補償方法，屬于掃描輻射計熱形變誤差補償技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明通過建立輻射計掃描成像模型，設(shè)計熱形變誤差求解與補償方法，能夠?qū)﹄p掃描鏡獨立驅(qū)動方式的掃描輻射計熱形變進行誤差補償。實驗表明，本發(fā)明“基于四元數(shù)掃描成像模型的熱形變誤差補償模型”比利用“泰特?布萊恩角建立等效失配角模型”精度高，適應(yīng)性強，符合理論預(yù)期。