檢測儀表設(shè)備是否存在異物遮擋的方法及系統(tǒng)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110271173.7 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN112990309A | 公開(公告)日 | 2021-06-18 |
申請公布號 | CN112990309A | 申請公布日 | 2021-06-18 |
分類號 | G06K9/62;G06K9/32;G06K9/46 | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 朱杰;王庫;馮文瀾 | 申請(專利權(quán))人 | 隨銳科技(天津)有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京中譽威圣知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 李澤中 |
地址 | 100192 北京市海淀區(qū)寶盛南路1號奧北科技園19號樓北京隨銳中心 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種檢測儀表設(shè)備是否存在異物遮擋的方法及系統(tǒng),其包括:在儀表設(shè)備模板圖像中標注出關(guān)鍵區(qū)域,從待測儀表設(shè)備的圖像中提取出相應(yīng)的關(guān)鍵區(qū)域;確定待測儀表設(shè)備的關(guān)鍵區(qū)域的標準差以及所述儀表設(shè)備模板圖像的關(guān)鍵區(qū)域的標準差;將待測儀表設(shè)備的關(guān)鍵區(qū)域的標準差的值與第一閾值以及第二閾值進行比較,其中,所述第一閾值、所述第二閾值均與所述儀表設(shè)備模板圖像的標準差的值相關(guān);若待測儀表設(shè)備的關(guān)鍵區(qū)域的標準差的值小于所述第一閾值或者大于所述第二閾值,則判定所述待測儀表設(shè)備的關(guān)鍵區(qū)域存在異物遮擋。根據(jù)本發(fā)明的檢測儀表設(shè)備是否存在異物遮擋的方法及系統(tǒng),其處理速度更快、識別效果更好且使用場景更為廣泛。 |
