商標進度

商標申請

初審公告

已注冊

4

終止

商標詳情

商標
商標名稱 惠威 商標狀態(tài) 商標已注冊
申請日期 2016-02-16 申請/注冊號 19105455
國際分類 09類-科學儀器 是否共有商標
申請人名稱(中文) 杭州惠威無損探傷設(shè)備有限公司 申請人名稱(英文) -
申請人地址(中文) 浙江省杭州市余杭區(qū)良渚街道好運路78號 申請人地址(英文) -
商標類型 商標注冊申請---注冊證發(fā)文 商標形式 -
初審公告期號 1543 初審公告日期 2017-03-13
注冊公告期號 19105455 注冊公告日期 2017-06-14
優(yōu)先權(quán)日期 - 代理/辦理機構(gòu) 杭州德龍知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司
國際注冊日 - 后期指定日期 -
專用權(quán)期限 2017-06-14-2027-06-13
商標公告 -
商品/服務(wù)
探測器(0910)
氣體檢測儀(0910)
工業(yè)遙控操作用電氣設(shè)備(0914)
工業(yè)用放射設(shè)備(0918)
非醫(yī)用X光產(chǎn)生裝置和設(shè)備(0918)
工業(yè)用放射屏幕(0918)
非醫(yī)用X光管(0918)
非醫(yī)用X光裝置(0918)
非醫(yī)用X光防護裝置(0919)
非醫(yī)用X光照片(0923)
商標流程
2016-02-16

商標注冊申請---申請收文

2016-06-22

商標注冊申請---等待受理通知書發(fā)文

2016-12-06

商標注冊申請---等待駁回通知發(fā)文

2017-02-04

商標注冊申請---等待駁回復(fù)審

2017-07-13

商標注冊申請---等待注冊證發(fā)文