一種錯誤數(shù)據(jù)調試方法、裝置、芯片及計算機設備
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110669106.0 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113127285B | 公開(公告)日 | 2021-10-08 |
申請公布號 | CN113127285B | 申請公布日 | 2021-10-08 |
分類號 | G06F11/263(2006.01)I | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 喬文 | 申請(專利權)人 | 北京燧原智能科技有限公司 |
代理機構 | 北京品源專利代理有限公司 | 代理人 | 孟金喆 |
地址 | 100191北京市海淀區(qū)知春路23號14層1401、1403、1405、1407室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種錯誤數(shù)據(jù)調試方法、裝置、芯片及計算機設備,所述方法應用于芯片中,包括:在寫入的多條待執(zhí)行的操作指令中,依次獲取一條操作指令為當前操作指令,并運行當前操作指令;在對當前操作指令的運行過程中,對與當前操作指令關聯(lián)的傳輸數(shù)據(jù)進行正確性校驗;如果與當前操作指令關聯(lián)的傳輸數(shù)據(jù)發(fā)生錯誤,則停止對后續(xù)操作指令的執(zhí)行,并在確定滿足中斷信號條件時,將中斷信號發(fā)送至指令配置設備,以使指令配置設備根據(jù)中斷信號,確定傳輸數(shù)據(jù)的錯誤類型,并采用與錯誤類型匹配的調試策略,對芯片進行調試。本發(fā)明實施例的技術方案可以提高芯片中錯誤數(shù)據(jù)的調試效率,提高芯片對多個操作指令的運行效率。 |
