長晶爐內(nèi)監(jiān)測方法及長晶爐
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201910336795.6 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN110004492B | 公開(公告)日 | 2019-07-12 |
申請公布號 | CN110004492B | 申請公布日 | 2019-07-12 |
分類號 | C30B29/06(2006.01)I | 分類 | 晶體生長〔3〕; |
發(fā)明人 | 夏秋良;范雪峰 | 申請(專利權(quán))人 | 新美光(蘇州)半導(dǎo)體科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) | 代理人 | 蘇州新美光納米科技有限公司;新美光(蘇州)半導(dǎo)體科技有限公司 |
地址 | 215000江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)金雞湖大道99號蘇州納米城NW-20#107、108、109、110 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供一種長晶爐內(nèi)監(jiān)測方法及長晶爐,該方法包括:接收影像設(shè)備在各窗口第一圖像數(shù)據(jù)、第二圖像數(shù)據(jù)和第三圖像數(shù)據(jù);第一圖像數(shù)據(jù)為單晶硅棒的圖像數(shù)據(jù);第二圖像數(shù)據(jù)為熔融多晶硅的圖像數(shù)據(jù);第三圖像數(shù)據(jù)為坩堝的圖像數(shù)據(jù);接收尺寸測量設(shè)備在各窗口采集的尺寸數(shù)據(jù);尺寸數(shù)據(jù)包括:單晶硅棒的直徑數(shù)據(jù);接收位移采集設(shè)備采集的拉晶線的位移數(shù)據(jù);接收環(huán)境監(jiān)測設(shè)備在各窗口采集的環(huán)境信息;根據(jù)第一圖像數(shù)據(jù)、單晶硅棒的直徑數(shù)據(jù)和位移數(shù)據(jù)生成單晶硅棒的三維圖像;按照三維圖像上的各坐標(biāo)點與環(huán)境信息的映射關(guān)系,存放各坐標(biāo)點對應(yīng)的環(huán)境信息??赏ㄟ^三維立體可視圖像觀測長晶爐內(nèi)各個方位的情況,實現(xiàn)全面監(jiān)測。?? |
