可精確定位的測(cè)試座

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202210258461.3 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN114646784A 公開(kāi)(公告)日 2022-06-21
申請(qǐng)公布號(hào) CN114646784A 申請(qǐng)公布日 2022-06-21
分類(lèi)號(hào) G01R1/04(2006.01)I;G01R1/073(2006.01)I 分類(lèi) 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 戴世豐;闕石男 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 蘇州艾方芯動(dòng)自動(dòng)化設(shè)備有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京維正專(zhuān)利代理有限公司 代理人 -
地址 215000江蘇省蘇州市相城區(qū)渭塘鎮(zhèn)澄陽(yáng)路3366號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)涉及晶片測(cè)試的領(lǐng)域,尤其是涉及一種可精確定位的測(cè)試座,其包括:測(cè)試座本體、設(shè)于該測(cè)試座本體上的浮動(dòng)板、以及設(shè)于該測(cè)試座本體側(cè)邊的側(cè)推裝置;該側(cè)推裝置具有可相對(duì)于該測(cè)試座本體水平移動(dòng)的側(cè)推元件,以及對(duì)該側(cè)推元件施加作用力的施力元件,其中,當(dāng)將晶片放入該浮動(dòng)板上的晶片測(cè)試部中時(shí),借由該施力元件對(duì)該側(cè)推元件施加的作用力使側(cè)推元件的推掣端在側(cè)邊方向推動(dòng)該晶片,進(jìn)而使該晶片在晶片測(cè)試部中定位。