大功率方片可控硅封裝結(jié)構(gòu)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201320861456.8 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN203644755U | 公開(公告)日 | 2014-06-11 |
申請公布號 | CN203644755U | 申請公布日 | 2014-06-11 |
分類號 | H01L23/31(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 許志峰 | 申請(專利權(quán))人 | 北京弘高創(chuàng)意建筑設(shè)計股份有限公司 |
代理機構(gòu) | 南京天華專利代理有限責任公司 | 代理人 | 江蘇東光微電子股份有限公司;江蘇東晨電子科技有限公司 |
地址 | 214205 江蘇省無錫市宜興新街百合工業(yè)園 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種大功率方片可控硅封裝結(jié)構(gòu),它包括從上至下依次設(shè)置的上鉬片(7)、第三焊料層(6)、芯片(5)、第二焊料層(4)、下鉬片(3)和第一焊料層(2),前述上鉬片(7)、第三焊料層(6)、芯片(5)、第二焊料層(4)、下鉬片(3)和第一焊料層(2)均置于硅膠框(8)內(nèi),芯片(5)的兩端插入硅膠框(8)內(nèi)部,硅膠框(8)外部安裝有導(dǎo)電外殼(1),所述的導(dǎo)電外殼(1)為頂部敞開,其余三面封閉的半包圍結(jié)構(gòu),所述的導(dǎo)電外殼(1)的底部焊接在該大功率方片可控硅需要安裝的位置。本實用新型使用時,裝配操作簡易,相比于傳統(tǒng)封裝形式不良率降低一個數(shù)量級。 |
