一種配比可控的大面積高通量復合薄膜合成裝置
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201822157390.X | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN209194035U | 公開(公告)日 | 2019-08-02 |
申請公布號 | CN209194035U | 申請公布日 | 2019-08-02 |
分類號 | C23C14/04(2006.01)I; C23C14/28(2006.01)I; C23C14/50(2006.01)I; C23C14/54(2006.01)I | 分類 | 對金屬材料的鍍覆;用金屬材料對材料的鍍覆;表面化學處理;金屬材料的擴散處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學氣相沉積法的一般鍍覆;金屬材料腐蝕或積垢的一般抑制〔2〕; |
發(fā)明人 | 張曉軍 | 申請(專利權)人 | 深圳市矩陣多元科技有限公司 |
代理機構 | 佛山市海融科創(chuàng)知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) | 代理人 | 陳志超 |
地址 | 518057 廣東省深圳市福田區(qū)福田街道圩鎮(zhèn)社區(qū)福田路24號海岸環(huán)慶大廈24層2401Ⅰ | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實用新型提供一種配比可控的大面積高通量復合薄膜合成裝置,本裝置中設置了可移動的基片架,并在基片架和靶材之間設置了用于遮擋掩膜部分區(qū)域的擋板,在合成薄膜的過程中,利用擋板掩蓋部分掩膜孔并移動基片架,調整基片架與靶材的相對位置和移動速度,從而調整輝羽中心在每個掩膜孔中停留的時間,不僅可以控制每個掩膜孔對應復合薄膜樣品的厚度,克服了高通量PLD鍍膜不均勻的缺陷,還可以通過控制每個掩膜孔在沉積不同材料時,輝羽中心停留的時間比,調整每個掩膜孔對應的基片樣品中沉積的不同材料之間的配比,從而實現(xiàn)配比可控。 |
