目標(biāo)對(duì)象的檢測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111440333.2 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113870254B 公開（公告）日 2022-03-15
申請(qǐng)公布號(hào) CN113870254B 申請(qǐng)公布日 2022-03-15
分類號(hào) G06T7/00（2017.01）I;G06V10/25（2022.01）I;G06V10/774（2022.01）I;G06K9/62（2022.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 王博;盧鵬;李兵;胡衛(wèi)明 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 人民中科（北京）智能技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京墨丘知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 唐忠仙;谷軼楠
地址 100190北京市海淀區(qū)中關(guān)村東路95號(hào)中國(guó)科學(xué)院自動(dòng)化研究所
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明實(shí)施例公開了一種目標(biāo)對(duì)象的檢測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。該方法包括：根據(jù)待檢測(cè)圖像生成第一圖像和第二圖像，第一圖像和第二圖像的尺寸不同，第一圖像和第二圖像中的至少一個(gè)圖像由待檢測(cè)圖像等比縮放得到，采用第一子模型檢測(cè)第一圖像，分別得到至少一類目標(biāo)對(duì)像的第一子特征，以及采用第二子模型檢測(cè)第二圖像，分別得到至少一類目標(biāo)對(duì)像的第二子特征，第一子模型與第二子模型是預(yù)訓(xùn)練的檢測(cè)模型中相同的子模型，分別融合各類目標(biāo)對(duì)像的第一子特征和第二子特征得到相應(yīng)類的目標(biāo)對(duì)像在待檢測(cè)圖像中的特征，實(shí)現(xiàn)了對(duì)待檢測(cè)圖像的整體輪廓和目標(biāo)對(duì)象的同時(shí)檢測(cè)，從而提高了目標(biāo)對(duì)象檢測(cè)方法檢測(cè)的性能。