IC載板測(cè)試機(jī)整機(jī)分步定位精度校驗(yàn)方法及系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201811605172.6 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN111435068A 公開(kāi)(公告)日 2020-07-21
申請(qǐng)公布號(hào) CN111435068A 申請(qǐng)公布日 2020-07-21
分類號(hào) G01B11/00(2006.01)I 分類 -
發(fā)明人 姚欣達(dá);高云峰 申請(qǐng)(專利權(quán))人 深圳麥遜電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市世聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 汪琳琳
地址 518000廣東省深圳市寶安區(qū)沙井街道新沙路安托山高科技工業(yè)園3#廠房一層A區(qū)、二、三層、五層A區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種IC載板測(cè)試機(jī)整機(jī)分步定位精度校驗(yàn)方法及系統(tǒng),利用IC載板測(cè)試機(jī)整機(jī)分步定位精度校驗(yàn)系統(tǒng)進(jìn)行,校驗(yàn)系統(tǒng)包括輸入輸出單元、標(biāo)定板、圖像采集單元及IC載板測(cè)試機(jī),方法包括步驟:通過(guò)輸入輸出單元設(shè)置校正需要進(jìn)行的步數(shù);獲取每一步的IC載板測(cè)試機(jī)定位精度誤差;計(jì)算IC載板測(cè)試機(jī)測(cè)試位任一步中心標(biāo)志點(diǎn)的標(biāo)定系數(shù),獲取該步數(shù)的誤差校正表;根據(jù)誤差校正表,對(duì)IC載板測(cè)試機(jī)測(cè)試位定位精度進(jìn)行補(bǔ)償校正。實(shí)施本發(fā)明,有效解決了現(xiàn)有的IC載板測(cè)試機(jī)分步整機(jī)在出廠時(shí)沒(méi)有定位精度及磨損老化后的精度校驗(yàn)問(wèn)題,可準(zhǔn)確快速的解決分步IC載板測(cè)試時(shí)出現(xiàn)的多種疑難問(wèn)題。??