一種二極電子元器件的檢測(cè)裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201410128982.2 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN103926487A 公開（公告）日 2014-07-16
申請(qǐng)公布號(hào) CN103926487A 申請(qǐng)公布日 2014-07-16
分類號(hào) G01R31/00(2006.01)I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 李文俊;沈鎮(zhèn)煒;王雪春 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 南京昊飛軟件有限公司
代理機(jī)構(gòu) 南京瑞弘專利商標(biāo)事務(wù)所（普通合伙） 代理人 南京飛騰電子科技有限公司;南京昊飛軟件有限公司
地址 211111 江蘇省南京市江寧區(qū)秣陵工業(yè)園藍(lán)霞路6號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種二極電子元器件的檢測(cè)裝置，包括基座、測(cè)試針和T型定位件；所述基座上設(shè)置有一段豎直方向的導(dǎo)軌，所述T型定位件與導(dǎo)軌匹配；所述測(cè)試針固定在基座上，且測(cè)試針穿過(guò)T型定位件的橫桿后其上的測(cè)試端露出基座；所述測(cè)試針上套有緩沖彈簧，所述緩沖彈簧上端固定在基座上、下端抵在T型定位件的橫桿上。首先利用T型定位件將非焊接狀態(tài)下的二極電子元器件壓緊固定，然后再平緩地下降測(cè)試針，使得測(cè)試針與待測(cè)的二極電子元器件兩端良好接觸，減少測(cè)量失敗的概率，提高檢測(cè)效率；同時(shí)，有效保護(hù)電子元器件和測(cè)試針，防止其彎曲或扎斷。