一種二極電子元器件的檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201410128982.2 申請日 -
公開（公告）號 CN103926487B 公開（公告）日 2016-03-30
申請公布號 CN103926487B 申請公布日 2016-03-30
分類號 G01R31/00(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李文俊;沈鎮(zhèn)煒;王雪春 申請（專利權(quán)）人 南京昊飛軟件有限公司
代理機構(gòu) 南京瑞弘專利商標(biāo)事務(wù)所（普通合伙） 代理人 南京飛騰電子科技有限公司;南京昊飛軟件有限公司
地址 211111 江蘇省南京市江寧區(qū)秣陵工業(yè)園藍(lán)霞路6號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種二極電子元器件的檢測裝置，包括基座、測試針和T型定位件；所述基座上設(shè)置有一段豎直方向的導(dǎo)軌，所述T型定位件與導(dǎo)軌匹配；所述測試針固定在基座上，且測試針穿過T型定位件的橫桿后其上的測試端露出基座；所述測試針上套有緩沖彈簧，所述緩沖彈簧上端固定在基座上、下端抵在T型定位件的橫桿上。首先利用T型定位件將非焊接狀態(tài)下的二極電子元器件壓緊固定，然后再平緩地下降測試針，使得測試針與待測的二極電子元器件兩端良好接觸，減少測量失敗的概率，提高檢測效率；同時，有效保護(hù)電子元器件和測試針，防止其彎曲或扎斷。