轉(zhuǎn)塔式半導(dǎo)體分立器件測試設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202121651892.3 申請日 -
公開（公告）號 CN215613344U 公開（公告）日 2022-01-25
申請公布號 CN215613344U 申請公布日 2022-01-25
分類號 B07C5/344（2006.01）I;B07C5/02（2006.01）I;B07C5/36（2006.01）I;G01V8/10（2006.01）I;G06M1/272（2006.01）I 分類 將固體從固體中分離；分選;
發(fā)明人 劉克燕;郭樹源;張錦雄;楊小珍;吳瓊濤;閆偉強;洪杰文 申請（專利權(quán)）人 汕頭華汕電子器件有限公司
代理機構(gòu) 汕頭市高科專利代理有限公司 代理人 王少明
地址 515041廣東省汕頭市興業(yè)路27號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開一種轉(zhuǎn)塔式半導(dǎo)體分立器件測試設(shè)備，基座上有位于同一圓周軌跡等距離的多個測試站，基座上方有可旋轉(zhuǎn)主塔，主塔下方有與測試站距離匹配的多個吸嘴，被測試器件輸送軌道出口與測試站之間還有方向校正座，基座還有光纖固定支座，光纖固定支座上有光纖傳感器的光纖對射光路，該光纖對射光路對準(zhǔn)吸嘴上被測試器件的運行軌跡，吸嘴上的被測試器件通過光纖對射光路時阻擋光纖對射光路，光纖傳感器電信號接入測試設(shè)備控制系統(tǒng)?？梢源_保測試系統(tǒng)每一次計數(shù)都有產(chǎn)品輸入，并使輸入產(chǎn)品數(shù)量之和等于良品和不良品計數(shù)之和。