一種針對節(jié)點模擬校準裝置的衰減校準器

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202121252252.5 申請日 -
公開（公告）號 CN214585938U 公開（公告）日 2021-11-02
申請公布號 CN214585938U 申請公布日 2021-11-02
分類號 G01R35/00（2006.01）I;G01R27/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 程翊昕;楊寧;行江;梁雙港;王勝奎;王震宇 申請（專利權(quán)）人 中電科瑞測（西安）科技服務(wù)有限公司
代理機構(gòu) 西北工業(yè)大學(xué)專利中心 代理人 金鳳
地址 710304陜西省西安市高新區(qū)草堂科技產(chǎn)業(yè)基地辦公樓后樓第二層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種針對節(jié)點模擬校準裝置的衰減校準器，三個衰減器串聯(lián)安裝于衰減器安裝盒內(nèi)，衰減校準器內(nèi)部結(jié)構(gòu)為三個獨立的屏蔽艙體，衰減器之間通過SMA穿墻座串聯(lián)，對外連接也使用SMA穿墻座。本發(fā)明采用衰減器串聯(lián)的方式實現(xiàn)了大動態(tài)范圍的的可變衰減，通過對衰減器安裝盒進行屏蔽的處理，避免了輸入端高電平對輸出端低電平的影響，保證衰減指標的準確、可靠，可作為節(jié)點模擬射頻校準裝置的驗證附件，解決大動態(tài)范圍驗證的難題。